Принцип работы сканирующего электронного микроскопа: электронный зонд (электронный пучок) направляется на анализируемый образец. В результате взаимодействия ...
Принцип работы оптического микроскопа достаточно прост: расходящийся пучок света проходит сквозь образец, полученное изображение увеличивается объективом, преломляется для поступления в тубус окуляра, где увеличивается еще раз. После этого пучок света поступает на сетчатку глаза, формируя картинку.
Суть метода электронной микроскопии в том, что через исследуемый образец подается электронный пучок разной энергии. Под воздействием электромагнитного поля он фокусируется на поверхности в виде пятна, в диаметре не превышающего 5 нм. Это пятно и выполняет «изучение» объекта.
Электронный микроскоп — это скорее световой оптический прибор, с той лишь разницей, что для освещения образцов в нем используется не свет, а пучок электронов. В отличие от светового (или оптического), электронный микроскоп позволяет получить сильное увеличение, что дает возможность увидеть очень мелкие детали.
Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) предполагает изучение тонких образов с помощью пучка электронов, проходящих сквозь них и взаимодействующих с ними. Электроны, прошедшие сквозь образец, фокусируются на устройстве формирования изображения: флюоресцентном экране, фотопластинке или сенсоре ПЗС-камеры.
Основное отличие светового микроскопа от электронного заключается в оптической системе последнего, в ней применяются электромагнитные линзы и электростатические, которые направляют пучок электронного луча и фокусируют его на исследуемом объекте с целью получения увеличенного изображения и изучения его.
Оптический микроскоп позволяет наблюдать только крупные органоиды: пластиды и ядро клетки. Электронная же микроскопия дает возможность изучать совсем малые органоиды: митохондрии, рибосомы, а также отдельные структуры цитоплазмы (эндоплазматическую сеть, аппарат Гольджи).
На сегодняшний день сканирующая электронная микроскопия используется для диагностики наноматериалов. Увеличение специального микроскопа достигает 1 000 000 крат ...
Сканирующий электронный микроскоп: принцип работы основан на том, что из него исходит электронный пучок разной энергии. На исследуемом образце он фокусируется в виде пятна, размер которого не превышает 5нм. Благодаря этому пятну и происходит сканирование всей поверхности объекта.
25 янв. 2017 г. — Сканирующий электронный микроскоп. SEM применяется в основном для исследования поверхности образцов с очень высоким разрешением (увеличение в ...
Итак, сканирующий электронный микроскоп — это прибор, предназначенный для получения увеличенного изображения объекта путем сканирования по объекту ...
25 авг. 2021 г. — Первый — это так называемый сканирующий электронный микроскоп, или просто СЭМ. В нем сфокусированный пучок электронов попадает на ...
В данном курсе, состоящем из пяти уроков, мы разберем принципы работы сканирующего электронного микроскопа Tescan Vega 3 и научимся на нем работать на пример ...
В поле под кнопками показана информация о текущих параметрах работы микроскопа. Текстовые строки работают как кнопки. Нажатие на кнопку делает активным ...
13 авг. 2021 г. — Сканирующей электронной микроскопией (СЭМ) получают изображения поверхности исследуемого образца с высокой разрешающей способностью.
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) — это многофункциональное оборудование, которое далеко выходит за рамки устройства для получения увеличенных изображений ...